Wang S.S., Wei B., Zhang Z.L., Li M.J., Gao L.K., Li M.H., Cao B.S.
Ключевые слова: HTS, YBCO, thin films, fabrication, precursors, TFA-MOD process, critical current density, X-ray diffraction, microstructure, resistive transition, resistivity, quality control
J Sol-Gel Science Technology, 2018, v.86, N 3, p.690-698
Полный текст на Sci-Hub
Дополнительная информация
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ruТехническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.